เครื่อง Scanning Electron Microscope (SEM)
- Hub of Talents in Gem and Jewelry
- 25 ก.ค. 2568
- ยาว 1 นาที
อัปเดตเมื่อ 3 ต.ค. 2568
รายนามเครื่องมือขั้นสูงด้านการตรวจสอบอัญมณีและเครื่องประดับ
*อ้างอิงข้อมูลจาก National Science and Technology Information System (NSTIS)
มหาวิทยาลัยสงขลานครรินทร์ (ยี่ห้อ HITACHI รุ่น SU3900 ), (ยี่ห้อ FEI รุ่น Apreo), (ยี่ห้อ THERMO FISHER SCIENTIFIC รุ่นQUANTA 400), (ยี่ห้อ JEOL รุ่นJSM-5800 LV (SEM5800))
มหาวิทยาลัยเชียงใหม่ (ยี่ห้อ JEOL รุ่น JSM-7001F), (ยี่ห้อ JEOL รุ่น SEM JSM-IT800-004), (ยี่ห้อ JEOL รุ่นJSM-IT300), (ยี่ห้อ Hitachi รุ่น SU3800)
มหาวิทยาลัยบูรพา (ยี่ห้อ LEO รุ่น 1450VP)
มหาวิทยาลัยแม่ฟ้าหลวง (ยี่ห้อ TESCAN รุ่น MIRA)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี (ยี่ห้อ Thermo Fisher Scientific รุ่น Phenom ProX), (ยี่ห้อ JEOL รุ่น JSM6610-LV)
มหาวิทยาลัยทักษิณ (ยี่ห้อ FEG รุ่น Quanta 450)
มหาวิทยาลัยอุบลราชธานี (ยี่ห้อ JEOL รุ่น primus 7600+)
สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ (สวทช.) (ยี่ห้อ Hitachi รุ่น SU8230), (ยี่ห้อ Hitachi รุ่น S-3400N), (ยี่ห้อ FEI รุ่น Versa3D)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี (ยี่ห้อ JEOL รุ่น JSM-6010 LV), (ยี่ห้อ JEOL รุ่น JSM-7800F)
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีราชมงคลล้านนา วิทยาเขตเชียงใหม่ (ยี่ห้อ ไม่ระบุ รุ่น ไม่ระบุ)
มหาวิทยาลัยมหาสารคาม (ยี่ห้อ HITACHI รุ่น TM 4000 PLUS), (ยี่ห้อ JEOL รุ่น JSM6460LV)
สถาบันวิจัยแสงซินโครตรอน (สซ.) (ยี่ห้อ FEI รุ่น Quanta 450)
ความคิดเห็น